電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)

第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A：低溫

1 范圍

GB／T 2423的本部分規(guī)定的低溫試驗(yàn)適用于非散熱和散熱試驗(yàn)樣品。試驗(yàn)Ab和試驗(yàn)Ad與早期版本無(wú)實(shí)質(zhì)性的差異”，增加試驗(yàn)Ae的目的主要是檢測(cè)那些要求在整個(gè)試驗(yàn)過(guò)程包括降溫調(diào)節(jié)期間都要通電運(yùn)行的設(shè)備。

本低溫試驗(yàn)的目的僅限于用來(lái)確定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在低溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力。

本低溫試驗(yàn)不能用來(lái)評(píng)價(jià)試驗(yàn)樣品耐溫度變化的能力和在溫度變化環(huán)境下的運(yùn)行能力，在這種情況下，應(yīng)采用GB／T 2423.22．

本低溫試驗(yàn)方法細(xì)分為以下幾種：—非散熱試驗(yàn)樣品低溫試驗(yàn)：

·試驗(yàn)Ab，溫度漸變。—散熱試驗(yàn)樣品低溫試驗(yàn)：

·試驗(yàn)Ad，溫度漸變；

·試驗(yàn)Ae，溫度漸變，試驗(yàn)樣品在整個(gè)試驗(yàn)過(guò)程通電。

本部分給出的試驗(yàn)方法通常用于試驗(yàn)期間能達(dá)到溫度穩(wěn)定的試驗(yàn)樣品。

2 規(guī)范性引用文件

下列文件中的條款通過(guò)GB／T2423的本部分的引用而成為本部分的條款。凡是注日期的引用文件，其隨后所有的修改單（不包括勘誤的內(nèi)容）或修訂版均不適用于本部分，然而，鼓勵(lì)根據(jù)本部分達(dá)成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的最新版本。凡是不注日期的引用文件，其最新版本適用于本部分。

GB／T 2421 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第1部分：總則（GB／T 2421—1999，idt IEC 60068—1：1988）GB／T 2422 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 術(shù)語(yǔ)（GB／T 2422—1995，eqv IEC 60068—5—2：1990）

GB／T 2423.22 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分：試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N：溫度變化（GB／T 2423.22—2002,IEC 60068-2-14:1984,IDT)

GB／T 2424.1 電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 高溫低溫試驗(yàn)導(dǎo)則（GB／T 2424.1—2005，IEC 60068—3—1:1974,IDT)

GB/T 2424.5

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)

溫度試驗(yàn)箱性能確認(rèn)（GB／T 2424.5—2006，IEC 60068—3-5:2001,IDT)

GB/T 2424.7

電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 試驗(yàn)A和試驗(yàn)B（帶負(fù)載）用溫度試驗(yàn)箱的測(cè)量(GB/T 2424.7-2006,IEC 60068-3-7:2001,IDT)

IEC 60721（所有部分）環(huán)境條件分級(jí)

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